1-1。
請(qǐng)使用示波器或頻率計(jì)數(shù)器測(cè)量晶體的兩個(gè)端子輸出的信號(hào)。如果沒有信號(hào)輸出，請(qǐng)按照步驟1-1至步驟1-4執(zhí)行檢查。如果晶體的外部端子（Xout）有信號(hào)輸出，而晶體內(nèi)部的端子（Xin）無信號(hào)輸出，請(qǐng)按照步驟1-5至步驟1-6檢查晶體。
1-2。
請(qǐng)卸載晶體，并測(cè)試其頻率和負(fù)載電容，以使用專業(yè)的測(cè)試機(jī)查看它們是否振動(dòng)并符合您的規(guī)格。您也可以將其發(fā)送給您的供應(yīng)商，讓他們?yōu)槟鷾y(cè)試。
1-3。
如果出現(xiàn)以下任何一種情況，晶體不振動(dòng)，其負(fù)載電容不符合您的規(guī)格，或者電流頻率與目標(biāo)頻率之間存在巨大差距，請(qǐng)將該晶振發(fā)送給您的供應(yīng)商進(jìn)行質(zhì)量分析。如果頻率和負(fù)載電容符合您的規(guī)格，我們將需要進(jìn)行等效電路測(cè)試。
1-4。
等效電路測(cè)試

1-4-1。
通常，微處理器的振蕩電路來自如下的Colpitts電路：
圖1
Cd和Cg是外部負(fù)載電容，已內(nèi)置在芯片組中。（請(qǐng)參閱芯片組的規(guī)格）
Rf是200KΩ?1MΩ的反饋電阻。它通常內(nèi)置在芯片組中。
Rd是具有470Ω?1KΩ的極限電阻。該電阻對(duì)于普通電路不是必需的，而僅對(duì)于具有高電源的電路是必需的。
1-4-2。
穩(wěn)定的振蕩電路需要負(fù)電阻，并且其值至少應(yīng)為晶體電阻的五倍?？梢詫懗蓔-R|>5Rr。
例如，要獲得穩(wěn)定的振蕩電路，當(dāng)晶體電阻值為40Ω時(shí)，IC的負(fù)電阻值必須小于200Ω。
1-4-3。
“負(fù)阻力” 是評(píng)估振蕩電路質(zhì)量的準(zhǔn)繩。在某些情況下，例如老化，熱變化，電壓變化等，如果“ Q”的值，電路可能不會(huì)振蕩。低。因此，按照以下說明測(cè)量負(fù)電阻（-R）非常重要：

4-1。
下面的曲線代表了晶體電阻的特性：

晶體具有各種振動(dòng)模式，例如基本振動(dòng)，第三泛音，第五泛音等。當(dāng)應(yīng)用基本模式時(shí)，晶振的電阻為最低，這意味著晶體最容易振蕩。當(dāng)應(yīng)用第三音頻模式時(shí)，必須利用放大電路將基本模式的頻率反饋降低到小于第三音頻模式的程度。因此，如果頻率僅為目標(biāo)頻率的三分之一，則由于電路環(huán)境適合于基本模式而不是第三音調(diào)模式，因此應(yīng)檢查是否應(yīng)用了放大電路或其設(shè)置值是否合適。

4-2。
如果未應(yīng)用放大電路或其設(shè)置值不足夠，電路可能不會(huì)振蕩。
4-3。
基本模式和第三音調(diào)模式的應(yīng)用如下：

4-4。
下表顯示了不同頻率下第三音模式的L，C匹配值：